三维扫描仪—XTOM

信息类别:检测量仪 > 光学类测量仪器

发布地区:江苏省-苏州市

发布时间:2017-09-06

发布企业:苏州西博三维科技有限公司

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产品详情描述


XTOM——三维光学面扫描系统


XTOM三维面扫描系统基于双目立体视觉原理,采用国际最先进的外差式多频相移三维光学测量技术,测量精度、测量速度等性能都达到国际最先进水平,与传统的格雷码加相移方法相比,测量精度高,抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小,可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。广泛适用于各种需求三维数据的行业,如汽车工业、飞机工业、摩托车外壳及内饰、家电、雕塑等。



应用范围

  • 逆向设计:快速获取零部件的表面点云数据,建立三维数模,从而达到产品快速设计的目的。

  • 产品检测:生产线产品质量控制和形位尺寸检测,特别适合复杂曲面的检测,可以检测铸件、锻件、冲压件、模具、注塑件、木制品等产品。

  • 其他应用:文物扫描和三维显示、牙齿及畸齿矫正、整容及上颌面手术。  




功能特色

  • 扫描预览,实时跟踪标志点

  • 针对不同幅面的标定板,灵活的相机标定

  • 扫描结果三维显示,灵活的三维显示控制

  • 坐标转换功能

  • 具备光学探针功能

  • 321坐标转换功能

  • 具备点距测量功能

  • 具备多种后处理功能,包括点云精确匹配、重叠面自动融合等

  • 具备多种元素拟合功能:点、线、面、球、圆柱、圆锥等

  • 具备多种偏差分析功能:点偏差、距离偏差、角度偏差等






 
规格型号





产品型号

TOPSCAN-TC

单目型

TOPSCAN-MIC

教育型

TOPSCAN-EDU

教育四目

TOPSCAN-ET

工业型

相机像素

1×1300000 ~20000002×1300000 ~20000004×1300000~20000002×1300000 ~4000000
扫描范围

128×96mm

400×300mm

32×24mm

64×48mm

128×96mm

128×96mm

400×300mm

128×96mm

400×300mm

800×600mm

测量精度0.02 ~0.04mm0.008~0.015mm0.03~0.05mm0.015~0.03mm
采样点距0.15 mm~0.3mm0.08~0.15mm0.12~0.25mm0.10~0.25mm
扫描方式非接触式扫描
输出格式ASC,STL、PLY
扫描时间3~5S
拼接方式标志点全自动拼接,手动选点拼接


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